EMV Test wiederholt fehlgeschlagen? Schwachstellen mit neuartigen Simulationsmethoden einfach und schnell erkennen.

Die EMV Konformität nach Richtlinien und Normen wird oft durch teure, wiederkehrende EMV-Messungen in Absorberhallen sichergestellt. Mit dem regelbasierenden EMI Scanner von ANSYS SIwave wird die Vorabanalyse auf Konformität bereits im Design der Leiterplatte möglich.  Die „Suszeptibilitäts“-Simulation zeigt die Empfindlichkeit gegenüber einfallender Störstrahlung über die gesamte Baugruppe.  Im Webinar zeigen wir die Arbeitsweise und Bedienung des regelbasierten EMI Scanners und führen beispielhaft eine Suszeptibilität-Empfindlichkeitsanalyse durch.

EMV

Weitere Informationen und Anmeldung:

Deutschsprachiges Webinar am 26.11.2019

Englischsprachiges Webinar am 03.12.2019

Die Präsentationen der PCB Roadshow 2017 von FINELINE Schweiz und FlowCAD Schweiz stehen zum Download bereit.... Mehr...
Der neuste Quarterly Incremental Release bringt zahlreiche Neuerungen mit sich. Alle Kunden unter Wartung können den Update kostenlos herunterladen.... Mehr...
Nachdem Cadence die AWR-Produkte von National Instruments übernommen hat, steht nun das erste Release von Cadence AWR zur Verfügung. AWR Version 15 ist für das effiziente Entwickeln von Hochfrequenz Leiterplatten im Bereich Millimeterwellen (mmWave) bis Mikrowellen ideal. Die Software wird mit einer Vielzahl an parametrisierten HF-Bauteilen ausgeliefert, die mit unterschiedlichsten Solvern, je nach Anwendung, simuliert werden können. Das Update enthält viele Neuerungen für das HF-Design von Filtern, Verstärkern oder Antennen.... Mehr...
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