EMV Test wiederholt fehlgeschlagen? Schwachstellen mit neuartigen Simulationsmethoden einfach und schnell erkennen.

Die EMV Konformität nach Richtlinien und Normen wird oft durch teure, wiederkehrende EMV-Messungen in Absorberhallen sichergestellt. Mit dem regelbasierenden EMI Scanner von ANSYS SIwave wird die Vorabanalyse auf Konformität bereits im Design der Leiterplatte möglich.  Die „Suszeptibilitäts“-Simulation zeigt die Empfindlichkeit gegenüber einfallender Störstrahlung über die gesamte Baugruppe.  Im Webinar zeigen wir die Arbeitsweise und Bedienung des regelbasierten EMI Scanners und führen beispielhaft eine Suszeptibilität-Empfindlichkeitsanalyse durch.

EMV

Weitere Informationen und Anmeldung:

Deutschsprachiges Webinar am 26.11.2019

Englischsprachiges Webinar am 03.12.2019

In der Version 17.4 wurden in OrCAD Capture und PSpice viele Verbesserungen in der grafischen Benutzeroberfläche vorgenommen, um die Schaltplaneingabe noch benutzerfreundlicher zu machen: Neue, 4K kompatible Icons, Frei konfigurierbare Fensterbereiche, Color Themes, Schaltplanseiten als verschiebbare Reiter, Online DRC ... Mehr...
Da viele von Ihnen aktuell im Home-Office arbeiten und der Zugang zu den Firmen-Lizenzen nicht immer möglich ist, können Sie mit OrCAD 30 Tage kostenlos arbeiten und dürfen das Tool während dieser Zeit kommerziell nutzen. Als Ersatz für die abgesagten Trainingstermine bieten wir zusammen mit Cadence ein kostenloses Online-Trainingsprogramm für jeden, der beim Cadence Online-Support registriert ist. Nach dem Log-in folgen Sie dem Banner „Get Two Weeks Free Access to Our Online Training Collection“. ... Mehr...
Der neuste Quarterly Incremental Release bringt zahlreiche Neuerungen mit sich. Alle Kunden unter Wartung können den Update kostenlos herunterladen.... Mehr...
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