EMV Test wiederholt fehlgeschlagen? Schwachstellen mit neuartigen Simulationsmethoden einfach und schnell erkennen.

Die EMV Konformität nach Richtlinien und Normen wird oft durch teure, wiederkehrende EMV-Messungen in Absorberhallen sichergestellt. Mit dem regelbasierenden EMI Scanner von ANSYS SIwave wird die Vorabanalyse auf Konformität bereits im Design der Leiterplatte möglich.  Die „Suszeptibilitäts“-Simulation zeigt die Empfindlichkeit gegenüber einfallender Störstrahlung über die gesamte Baugruppe.  Im Webinar zeigen wir die Arbeitsweise und Bedienung des regelbasierten EMI Scanners und führen beispielhaft eine Suszeptibilität-Empfindlichkeitsanalyse durch.

EMV

Weitere Informationen und Anmeldung:

Deutschsprachiges Webinar am 26.11.2019

Englischsprachiges Webinar am 03.12.2019

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Mit der Durchschlagfestigkeit erreicht die elektrische Feldstärke das zugelassene Maximum und es kann zu einer Entladung durch den Isolator kommen. Bei Leiterplatten kann jetzt mit NEXTRA von Mecadtron geprüft werden, wo zwischen zwei Kupferelementen auf unterschiedlichen Lagen der FR4-Isolation zu dünn ist. Der Layouter kann zum Beheben des Fehlers die Signale auf anderen Lagen routen und den Bereich zwischen den Hochspannungselementen freilassen, so dass mehrere FR4-Segmente den Abstand erhöhen um bei der angelegten Spannung einen Durchschlag zu verhindern.... Mehr...
Der neuste Quarterly Incremental Release bringt zahlreiche Neuerungen mit sich. Alle Kunden unter Wartung können den Update kostenlos herunterladen.... Mehr...
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