EMV Test wiederholt fehlgeschlagen? Schwachstellen mit neuartigen Simulationsmethoden einfach und schnell erkennen.

Die EMV Konformität nach Richtlinien und Normen wird oft durch teure, wiederkehrende EMV-Messungen in Absorberhallen sichergestellt. Mit dem regelbasierenden EMI Scanner von ANSYS SIwave wird die Vorabanalyse auf Konformität bereits im Design der Leiterplatte möglich.  Die „Suszeptibilitäts“-Simulation zeigt die Empfindlichkeit gegenüber einfallender Störstrahlung über die gesamte Baugruppe.  Im Webinar zeigen wir die Arbeitsweise und Bedienung des regelbasierten EMI Scanners und führen beispielhaft eine Suszeptibilität-Empfindlichkeitsanalyse durch.

EMV

Weitere Informationen und Anmeldung:

Deutschsprachiges Webinar am 26.11.2019

Englischsprachiges Webinar am 03.12.2019

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OMICRON ist bekannt für zuverlässige Produkte, die einen reibungslosen, sicheren und effizienten Betrieb von Energiesystemen ermöglichen. Lesen Sie, welche Tools OMICRON für die komplexe Leiterplatte in ihrem hybridem Messsystem DANEO 400 eingesetzt hat. Mit mehr als 1300 Bauteilen auf einer 12-lagigen Leiterplatte ist das Layout dicht gedrängt und der Formfaktor erhöht die Komplexität der Entwurfsaufgabe. Mithilfe von Online DRC konnten alle Einschränkungen berücksichtigt und ein Layout erstellt werden, das allen Entwurfsregeln für Leistung und hohe Geschwindigkeit entspricht. ... Mehr...
Mit dem neuen Release 17.4 erhalten OrCAD und Allegro eine überarbeitete Benutzeroberfläche. Die Dialogfenster wurden überarbeitet und zum Teil mit Erklärungen ergänzt, damit das Arbeiten selbst bei komplexen Einstellungen noch intuitiver wird. Neu ist auch ein Dark Theme für Capture und den PCB Editor. Die Indesign Analyse ermöglicht es dem Layouter, standardisierte SI und PI Simulation im PCB Editor selber durchzuführen und so interaktiv, ohne fremde Hilfe, das Layout zu verbessern. Etwa 80 % der kritischen Stellen seines Layouts kann der PCB Designer damit selbstständig optimieren. ... Mehr...
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