EMV Test wiederholt fehlgeschlagen? Schwachstellen mit neuartigen Simulationsmethoden einfach und schnell erkennen.

Die EMV Konformität nach Richtlinien und Normen wird oft durch teure, wiederkehrende EMV-Messungen in Absorberhallen sichergestellt. Mit dem regelbasierenden EMI Scanner von ANSYS SIwave wird die Vorabanalyse auf Konformität bereits im Design der Leiterplatte möglich.  Die „Suszeptibilitäts“-Simulation zeigt die Empfindlichkeit gegenüber einfallender Störstrahlung über die gesamte Baugruppe.  Im Webinar zeigen wir die Arbeitsweise und Bedienung des regelbasierten EMI Scanners und führen beispielhaft eine Suszeptibilität-Empfindlichkeitsanalyse durch.

EMV

Weitere Informationen und Anmeldung:

Deutschsprachiges Webinar am 26.11.2019

Englischsprachiges Webinar am 03.12.2019

Gewürdigt wurden zahlreicher Pioniere der Elektronik sowie ihrer Unternehmen, darunter auch Cadence und FlowCAD in der Kategorie EDA.... Mehr...
Der neuste Quarterly Incremental Release bringt zahlreiche Neuerungen mit sich. Alle Kunden unter Wartung können den Update kostenlos herunterladen.... Mehr...
Beckhoff ist bekannt für sein breites Spektrum an PC-basierten Automatisierungskomponenten und Lösungen für den industriellen Einsatz. Der lüfterlose, ultrakompakte Industrie-PC C6025 ist sehr zuverlässig und robust in Bezug auf EMV, Signal- und Spannungsintegrität. Tausende von Regeln mussten im Designprozess beachtet werden und dies war im Allegro Constraint Manager einfach zu verwalten. Echtzeit-Designregelprüfungen gaben dem Designer ein sofortiges Feedback. ... Mehr...
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